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技术方案
SpectraScan高分辨率高光谱成像分析技术方案
时间:2024-07-08    作者:易科泰 点击量:

  • 高分辨率VNIR高光谱成像,空间分辨率1775 x像素,光谱分辨率3nm,波段数768
  • 1000-2500nm SWIR高光谱成像,高灵敏度450FPS,384x像素空间分辨率,低温冷却MCT检测器,高信噪比SNR1050:1

  • 多样化扫描成像主机系统供选配:实验室扫描成像系统、野外扫描成像系统、客户定制系统

  • 广泛应用领域:农业(作物表型成像分析、种质资源检测、病害检测等)、健康(食品药品品质检测等)、地质矿物成分分析、材料检测分检、生态环境、土壤与地球科学、文博及刑侦等等。

  • Specim高光谱成像相机,出厂已经过光谱校准,每次扫描前测量一个内部标准参考目标,自动校准图像反射率
  • 提供SDK,用于快速高效的应用程序开发

主要技术参数:

  1. 高光谱成像:

成像单元

VNIR

SWIR

光谱范围

400-1000nm

1000-2500nm

光谱采样

0.78-6.27nmm

5.6nm

光谱分辨率

3.0nm

12nm

F

F/2.4

F/2.0

空间像素/线

1775

384

光谱波段数

768

288

帧频

100FPS

450FPS

相机输出

12bit CameraLink

16bit CameraLink

像素大小

8μm

24μm

曝光时间

0.1-100ms

0.1-20ms

相机重量

2.7kg

14kg(相机)+5kg(DPU)

  1. 主机系统选配:
    1. LabScanner:样品盘100x50cm,高度可调范围50cm,最大扫描速度500mm/s,包括光源、数据采集软件、校准板等;可选配扫描行程最大达190cm的扫描成像台架,可俯视、侧视扫描成像
    2. SisuCHEMA,可选配SisuCHEMA主机系统的同时匹配选择俯视侧视扫描成像台架
    3. 样芯扫描主机系统:可选配SisuSCS样芯扫描主机系统或高通量样芯扫描主机系统,或客户定制样芯扫描成像分析系统,用于岩矿样芯、沉积样芯、土壤样芯的成像分析
    4. 旋转平台系统:步进马达,FOV180x60度,扫描速度01-25度/秒,用于地矿、农业、植物、岩画、土壤等野外原位扫描成像分析等

SisuCHENA系统              俯视、侧视扫描台架               高通量土壤高光谱成像分析系统

 

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