时间:2022-08-02
作者:易科泰
点击量:
简介:
种子及种苗形态结构、活力、适合度、抗逆性、胁迫敏感性、生理生化指标等是作物种质资源品质监测评估的重要指标体系,其中种子活力是种子发芽和出苗率、幼苗生长的潜势、植株抗逆能力和生产潜力的总和(发芽和出苗期间的活性水平与行为),是种子品质的重要指标,具体包括吸涨后旺盛的代谢强度、出苗能力、抗逆性、发芽速度及同步性、幼苗发育与产量潜力。种子活力是植物的重要表型特征,传统检测方法包括低温测试(cold test)、高温加速衰老测试(accelerated aging test)、幼苗生长测定等。
PhenoTron®-HSI种质资源高光谱成像分析系统,是易科泰公司推出的可用于种质资源检测鉴定、种子活力检测、种质资源表型性状监测评估的高光谱成像分析系统,具备快速、非损伤、高通量特点。可应用于种子、幼苗及根系等种质资源表型性状成像分析、叶绿素荧光成像检测、次级代谢产物荧光成像分析、种子活力检测、成分含量分析、种质资源性状监测评估等,还可应用于杂质检测、病原体检测、成分检测、种质资源数字化、种苗(包括根系)成像分析、遗传育种性状检测与抗性筛选等。
左图:PhenoTron®-HSI高光谱成像分析系统;右图:绿豆萌发高光谱成像分析
产品特点
上图为彩色玉米及UV-MCF荧光成像,下图为发芽土豆荧光光谱
技术指标
型号 |
PhenoTron-FX10 |
PhenoTron-FX10/17 |
PhenoTron-sCMOS |
PhenoTron-SWIR |
波段范围 |
400-1000nm |
400-1700nm |
400-1000nm |
1000-2500nm |
光谱分辨率 |
5.5nm |
5.5nm / 8nm |
2.9nm |
12nm |
光谱通道 |
224(bin=2) |
224(bin=2)/ 224 |
946 |
288 |
空间像素 |
1024 |
1024 / 640 |
2184 |
384 |
信噪比 |
400:1 |
400:1 / 1000:1 |
170:1-680:1 |
1050:1 |
数值孔径 |
F/1.7 |
F/1.7 |
F/2.4 |
F/2.0 |
帧频 |
330FPS |
330FPS / 670FPS |
100FPS |
450FPS |
UV-MCF-M |
可选配 |
可选配 |
可选配 |
不可选配 |
a)可进行伪彩色/灰度显示、波段融合、ROI选区、光谱指数分析、光谱曲线绘制、光谱特征统计、直方图统计、结果图/表导出等;
b)可分析NDVI、PRI、DCNI、CRI、ARI、PSRI、NPQI、EVI、HI、WBI等数十种VIs参数,研究植物表型及结构信息、生物及非生物胁迫、色素含量、理化性状、种质、中药材及果实品种品质等指标;
a)基本分析:具备伪彩色/灰度显示、旋转显示、阈值掩膜、波段融合、手动/自动ROI分析、光谱曲线绘制、光谱平滑、光谱特征统计、路径分析、图/表导出等功能;
b)荧光参数分析:可分析F440、F520、F690、F740、F690/F740、F520/F690、F735/F700、F440/F520、F440/F690、F440/F740等多种荧光参数,支持扩展;
c)形态参数分析:可分析色素或校准面积、圆滑度(Circularity)、长宽比(Aspect ratio)、紧实度(Solidity)、圆度(Roundness)等;
从左至右依次为:FluorVision©软件分析界面;BGF图;叶绿素荧光图
应用案例
(1)绿豆种子豆象侵染检测
豆象侵染绿豆种子的光谱成像:900-1700nm高光谱成像分析(左图);红外热成像图(右图)
(易科泰光谱成像实验室供图)
(2)种苗早期生长阶段表型分析
绿豆种苗早期生长阶段叶绿素分布及健康性状可视化表达(易科泰光谱成像实验室供图)
(3)玉米种子活力检测
左图为微波热处理种子和对照组(未处理)玉米种子短波红外光谱;右图为微波热处理种子(老化处理)和正常玉米种子(未处理)分析结果,自上而下第一和第三排为正常种子、第二和第四排为微波热处理种子。引自:Collins Wakholi, Lalit Mohan Kandpal, Hoonsoo Lee, Hyungjin Bae, Eunsoo Park, Moon S.Kim, Changyeun Mo, Wang-Hee Lee, Byoung- Kwan Cho, Rapid assessment of corn seed viability using short wave infrared line-scan hyperspectral imaging and chemometrics, Sensors and Actuators B: Chemical http://dx.doi.org/10.1016/j.snb.2017.08.036